2018年12月12日、第4回機器分析・計測セミナー『素材研究用顕微鏡』を開催いたしました。
メーカーからお招きした講師の方に多光子顕微鏡で、GaNの欠陥や転移を観察する、最新の技術をご紹介いただきました。
ご参加いただきました皆様、ありがとうございました‼
令和6年度第1回機器分析・計測セミナー「ルミノメーターセミナー」を開催します。 (開催日:2024/7/11(木)) お申し込みはこちら[...]
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機器分析施設では、装置メーカーの日本ビュッヒ株式会社のご協力の下、 令和5年度第1回機器分析・計測セミナー 「分取クロマト[...]