新着情報

令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置のご紹介」

学内向け 学外向け

令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置Amersham® Typhoon® NIR Plusのご紹介」を開催します。
(開催日:2024/12/24(火))
お申し込みはこちら(GoogleForms)

令和6年度第3回機器分析・計測セミナー開催案内

2024.12.13

令和7年度機器分析・計測セミナー「EDSオンラインセミナー」

令和7年度機器分析・計測セミナー「EDSオンラインセミナー」を開催します。 (開催日:2025/11/26(水)) お申し込みはこち[...]

記事を読む

接触角測定装置講習会開催のご案内

詳しくは、接触角測定装置講習会をご確認ください。 お申し込みはこちら(Google Formsリンク)[...]

記事を読む

令和5年度第2回機器分析・計測セミナー「X線CT装置オンラインセミナー」

令和5年度第2回機器分析・計測セミナー「X線CT装置オンラインセミナー」を開催いたします。本セミナーでご紹介いたします2機種は、当方で令和6[...]

記事を読む