令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置Amersham® Typhoon® NIR Plusのご紹介」を開催します。 (開催日:2024/12/24(火)) お申し込みはこちら(GoogleForms)
令和6年度第3回機器分析・計測セミナー開催案内
令和4年度第3回機器分析・計測セミナー「FACS基礎原理・アプリケーションセミナー」を開催します。 (開催日:2022.9.26) お申[...]
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『施設利用ガイダンス』を開催いたします。 (開催日 4月26日,5月9日) ガイダンス_2019[...]
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