令和４年度第３回機器分析・計測セミナー「FACS基礎原理・アプリケーションセミナー」を開催します。 （開催日：2022.9.26） お申込みはこちら（GoogleForms） 220926EventInformationLeaflet_FACS基礎原理・アプリケーションセミナー 皆様のご参加をお待ちしております。
令和４年度第１回機器分析・計測セミナー『ＳＥＭセミナー』を開催します。 （開催日：2022.6.3） お申し込みはこちら（参加申[...]
記事を読む
令和５年度第２回機器分析・計測セミナー「X線CT装置オンラインセミナー」を開催いたします。本セミナーでご紹介いたします２機種は、当方で令和６[...]
機器分析施設では、装置メーカーのライカマイクロシステムズ株式会社のご協力の下、本年度も令和５年度第１回ワークショップ「試料作製・『偏光』観[...]
