令和４年度第３回機器分析・計測セミナー「FACS基礎原理・アプリケーションセミナー」を開催します。 （開催日：2022.9.26） お申込みはこちら（GoogleForms） 220926EventInformationLeaflet_FACS基礎原理・アプリケーションセミナー 皆様のご参加をお待ちしております。
令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置Amersham® Typhoon® NIR Plusのご紹介」を開催しま[...]
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2018年12月5日、第1回ワークショップ『卓上低真空走査電子顕微鏡』を開催いたしました。 7組（教員5名、学生21名）の皆様にご参加[...]
2018年12月12日、第4回機器分析・計測セミナー『素材研究用顕微鏡』を開催いたしました。 メーカーからお招きした講師の方に多光子顕[...]
