令和4年度第3回機器分析・計測セミナー「FACS基礎原理・アプリケーションセミナー」を開催します。 (開催日:2022.9.26) お申込みはこちら(GoogleForms) 220926EventInformationLeaflet_FACS基礎原理・アプリケーションセミナー 皆様のご参加をお待ちしております。
2018年12月12日、第4回機器分析・計測セミナー『素材研究用顕微鏡』を開催いたしました。 メーカーからお招きした講師の方に多光子顕[...]
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機器分析施設では、装置メーカーのライカマイクロシステムズ株式会社のご協力の下、本年度も令和5年度第1回ワークショップ「試料作製・『偏光』観[...]