新着情報

令和4年度第3回機器分析・計測セミナー「FACS基礎原理・アプリケーションセミナー」の開催のご案内

学内向け 学外向け

令和4年度第3回機器分析・計測セミナー「FACS基礎原理・アプリケーションセミナー」を開催します。
(開催日:2022.9.26)
お申込みはこちら(GoogleForms)

220926EventInformationLeaflet_FACS基礎原理・アプリケーションセミナー
皆様のご参加をお待ちしております。

2022.9.15

第4回機器分測・計測セミナー『素材研究用顕微鏡』を開催いたしました。

2018年12月12日、第4回機器分析・計測セミナー『素材研究用顕微鏡』を開催いたしました。 メーカーからお招きした講師の方に多光子顕[...]

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スキャナータイプ画像解析装置機器講習会のご案内

詳しくは、スキャナータイプ画像解析装置講習会をご確認ください。 お申し込みはこちら(Formsリンク)[...]

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令和5年度第1回ワークショップ「試料作製・『偏光』観察展示会」の開催のご案内

 機器分析施設では、装置メーカーのライカマイクロシステムズ株式会社のご協力の下、本年度も令和5年度第1回ワークショップ「試料作製・『偏光』観[...]

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