令和４年度第１回機器分析・計測セミナー『ＳＥＭセミナー』を開催します。
（開催日：2022.6.3）
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皆様のご参加をお待ちしております。
機器分析施設では、装置メーカーのライカマイクロシステムズ株式会社のご協力の下、本年度も令和５年度第１回ワークショップ「試料作製・『偏光』観[...]
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詳しくは、接触角測定装置講習会をご確認ください。 お申し込みはこちら（Google Formsリンク）[...]
令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置Amersham® Typhoon® NIR Plusのご紹介」を開催しま[...]
