第5回機器分析・計測セミナー『質量分析技術の基礎』を開催いたします。
開催日（H30.12.19）
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令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置Amersham® Typhoon® NIR Plusのご紹介」を開催しま[...]
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機器分析施設では、装置メーカーのライカマイクロシステムズ株式会社のご協力の下、令和４年度第１回ワークショップ「顕微鏡＆マイクロスコープ展示[...]
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