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2018.12.18

令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置のご紹介」

令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置Amersham® Typhoon® NIR Plusのご紹介」を開催しま[...]

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令和5年度第1回機器分析・計測セミナー「分取クロマトグラフィー体験セミナー」開催のご案内

機器分析施設では、装置メーカーの日本ビュッヒ株式会社のご協力の下、    令和5年度第1回機器分析・計測セミナー     「分取クロマト[...]

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第4回機器分測・計測セミナー『素材研究用顕微鏡』を開催いたしました。

2018年12月12日、第4回機器分析・計測セミナー『素材研究用顕微鏡』を開催いたしました。 メーカーからお招きした講師の方に多光子顕[...]

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