令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置Amersham® Typhoon® NIR Plusのご紹介」を開催しま[...]
記事を読む
機器分析施設では、装置メーカーの日本ビュッヒ株式会社のご協力の下、 令和5年度第1回機器分析・計測セミナー 「分取クロマト[...]
2018年12月12日、第4回機器分析・計測セミナー『素材研究用顕微鏡』を開催いたしました。 メーカーからお招きした講師の方に多光子顕[...]