新着情報

第4回機器分測・計測セミナー『素材研究用顕微鏡』を開催いたしました。

2018年12月12日、第4回機器分析・計測セミナー『素材研究用顕微鏡』を開催いたしました。

メーカーからお招きした講師の方に多光子顕微鏡で、GaNの欠陥や転移を観察する、最新の技術をご紹介いただきました。

ご参加いただきました皆様、ありがとうございました‼

2018.12.12

「X線撮影・CTデータ解析ソフトウェアトレーニング」開催のご案内

詳しくはX線撮影・CTデータ解析ソフトウェアトレーニングについてをご参照ください。 お申し込みはこちら(Google Formsリンク[...]

記事を読む

令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置のご紹介」

令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置Amersham® Typhoon® NIR Plusのご紹介」を開催しま[...]

記事を読む

令和6年度第1回機器分析・計測セミナー「ルミノメーターセミナー」

令和6年度第1回機器分析・計測セミナー「ルミノメーターセミナー」を開催します。 (開催日:2024/7/11(木)) お申し込みはこちら[...]

記事を読む