第4回機器分測・計測セミナー『素材研究用顕微鏡』を開催いたしました。
2018年12月12日、第4回機器分析・計測セミナー『素材研究用顕微鏡』を開催いたしました。
メーカーからお招きした講師の方に多光子顕微鏡で、GaNの欠陥や転移を観察する、最新の技術をご紹介いただきました。
ご参加いただきました皆様、ありがとうございました‼
2018.12.12
令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置Amersham® Typhoon® NIR Plusのご紹介」を開催しま[...]
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ホームページをリニューアルいたしました。
機器一覧をデータベース化し、検索が容易にできるようになりました。
是非、ご活用ください[...]
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2019年4月26日（金）、『施設利用ガイダンス』を開催いたしました。
5月9日（木）に第2回を開催いたします。
第1回に参加出[...]
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