2018年12月12日、第4回機器分析・計測セミナー『素材研究用顕微鏡』を開催いたしました。
メーカーからお招きした講師の方に多光子顕微鏡で、GaNの欠陥や転移を観察する、最新の技術をご紹介いただきました。
ご参加いただきました皆様、ありがとうございました‼
第5回機器分析・計測セミナー『質量分析技術の基礎』を開催いたします。 開催日(H30.12.19) くわしくはこちらをご[...]
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令和4年度第1回機器分析・計測セミナー『SEMセミナー』を開催します。 (開催日:2022.6.3) お申し込みはこちら(参加申[...]