第4回機器分測・計測セミナー『素材研究用顕微鏡』を開催いたしました。
2018年12月12日、第4回機器分析・計測セミナー『素材研究用顕微鏡』を開催いたしました。
メーカーからお招きした講師の方に多光子顕微鏡で、GaNの欠陥や転移を観察する、最新の技術をご紹介いただきました。
ご参加いただきました皆様、ありがとうございました‼
2018.12.12
過日にご案内いたしました当該セミナーの初日（8/31）の講演・機器紹介について
・講演中に実機を見たい。
・メーカーと直接話したい。[...]
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令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置Amersham® Typhoon® NIR Plusのご紹介」を開催しま[...]
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詳しくは、GC-MS装置講習会をご確認ください。
お申し込みはこちら（Google Formsリンク）[...]
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