第4回機器分測・計測セミナー『素材研究用顕微鏡』を開催いたしました。
2018年12月12日、第4回機器分析・計測セミナー『素材研究用顕微鏡』を開催いたしました。
メーカーからお招きした講師の方に多光子顕微鏡で、GaNの欠陥や転移を観察する、最新の技術をご紹介いただきました。
ご参加いただきました皆様、ありがとうございました‼
2018.12.12
6/3に開催いたしました令和４年度第１回機器分析・計測セミナー
『ＳＥＭセミナー』の録画動画の上映会を開催します。
（開催日：2022.[...]
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機器分析施設では、装置メーカーのライカマイクロシステムズ株式会社のご協力の下、令和４年度第１回ワークショップ「顕微鏡＆マイクロスコープ展示[...]
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『施設利用ガイダンス』を開催いたします。
（開催日 4月26日，5月9日）
ガイダンス_2019[...]
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