新着情報

第4回機器分測・計測セミナー『素材研究用顕微鏡』を開催いたしました。

2018年12月12日、第4回機器分析・計測セミナー『素材研究用顕微鏡』を開催いたしました。

メーカーからお招きした講師の方に多光子顕微鏡で、GaNの欠陥や転移を観察する、最新の技術をご紹介いただきました。

ご参加いただきました皆様、ありがとうございました‼

2018.12.12

令和6年度第4回機器分析・計測セミナー「ICP発光分光分析装置オンラインセミナー」

令和6年度第4回機器分析・計測セミナー「ICP発光分光分析装置オンラインセミナー」を開催します。 (開催日:2025/1/20(月)) [...]

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「X線撮影・CTデータ解析ソフトウェアトレーニング」開催のご案内

詳しくはX線撮影・CTデータ解析ソフトウェアトレーニングについてをご参照ください。 お申し込みはこちら(Google Formsリンク[...]

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『施設利用ガイダンス』開催のご案内

『施設利用ガイダンス』を開催いたします。 (開催日 4月26日,5月9日) ガイダンス_2019[...]

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