第4回機器分測・計測セミナー『素材研究用顕微鏡』を開催いたしました。
2018年12月12日、第4回機器分析・計測セミナー『素材研究用顕微鏡』を開催いたしました。
メーカーからお招きした講師の方に多光子顕微鏡で、GaNの欠陥や転移を観察する、最新の技術をご紹介いただきました。
ご参加いただきました皆様、ありがとうございました‼



2018.12.12
機器分析施設では、装置メーカーのライカマイクロシステムズ株式会社のご協力の下、本年度も令和5年度第1回ワークショップ「試料作製・『偏光』観[...]
記事を読む
過日にご案内いたしました当該セミナーの初日(8/31)の講演・機器紹介について
・講演中に実機を見たい。
・メーカーと直接話したい。[...]
記事を読む
ホームページをリニューアルいたしました。
機器一覧をデータベース化し、検索が容易にできるようになりました。
是非、ご活用ください[...]
記事を読む