新着情報

第4回機器分測・計測セミナー『素材研究用顕微鏡』を開催いたしました。

2018年12月12日、第4回機器分析・計測セミナー『素材研究用顕微鏡』を開催いたしました。

メーカーからお招きした講師の方に多光子顕微鏡で、GaNの欠陥や転移を観察する、最新の技術をご紹介いただきました。

ご参加いただきました皆様、ありがとうございました‼

2018.12.12

令和5年度第1回ワークショップ「試料作製・『偏光』観察展示会」の開催のご案内

 機器分析施設では、装置メーカーのライカマイクロシステムズ株式会社のご協力の下、本年度も令和5年度第1回ワークショップ「試料作製・『偏光』観[...]

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[変更] 令和5年度第1回機器分析・計測セミナー「分取クロマトグラフィー体験セミナー」開催のご案内

過日にご案内いたしました当該セミナーの初日(8/31)の講演・機器紹介について  ・講演中に実機を見たい。  ・メーカーと直接話したい。[...]

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ホームページをリニューアルいたしました

ホームページをリニューアルいたしました。 機器一覧をデータベース化し、検索が容易にできるようになりました。 是非、ご活用ください[...]

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