第4回機器分測・計測セミナー『素材研究用顕微鏡』を開催いたしました。
2018年12月12日、第4回機器分析・計測セミナー『素材研究用顕微鏡』を開催いたしました。
メーカーからお招きした講師の方に多光子顕微鏡で、GaNの欠陥や転移を観察する、最新の技術をご紹介いただきました。
ご参加いただきました皆様、ありがとうございました‼
2018.12.12
2018年12月19日、第5回機器分析・計測セミナー『質量分析技術の基礎』を開催いたしました。
ご参加いただいた皆様、ありがとうござい[...]
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機器分析施設では、装置メーカーのライカマイクロシステムズ株式会社のご協力の下、本年度も令和５年度第１回ワークショップ「試料作製・『偏光』観[...]
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ホームページをリニューアルいたしました。
機器一覧をデータベース化し、検索が容易にできるようになりました。
是非、ご活用ください[...]
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