新着情報

第4回機器分測・計測セミナー『素材研究用顕微鏡』を開催いたしました。

2018年12月12日、第4回機器分析・計測セミナー『素材研究用顕微鏡』を開催いたしました。

メーカーからお招きした講師の方に多光子顕微鏡で、GaNの欠陥や転移を観察する、最新の技術をご紹介いただきました。

ご参加いただきました皆様、ありがとうございました‼

2018.12.12

スキャナータイプ画像解析装置機器講習会のご案内

詳しくは、スキャナータイプ画像解析装置講習会をご確認ください。 お申し込みはこちら(Formsリンク)[...]

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研究推進総合支援センターの先端研究設備を活用した教育研究支援事業

本学第4期中期計画「14-1 設備による教育研究支援」に基づき、大学の施設・設備等を活用した教育研究を支援するため、学内の教職員・学生を対象[...]

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令和4年度第1回機器分析・計測セミナー『SEMセミナー』開催のご案内

令和4年度第1回機器分析・計測セミナー『SEMセミナー』を開催します。 (開催日:2022.6.3) お申し込みはこちら(参加申[...]

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