第4回機器分測・計測セミナー『素材研究用顕微鏡』を開催いたしました。
2018年12月12日、第4回機器分析・計測セミナー『素材研究用顕微鏡』を開催いたしました。
メーカーからお招きした講師の方に多光子顕微鏡で、GaNの欠陥や転移を観察する、最新の技術をご紹介いただきました。
ご参加いただきました皆様、ありがとうございました‼
2018.12.12
令和４年度第３回機器分析・計測セミナー「FACS基礎原理・アプリケーションセミナー」を開催します。
（開催日：2022.9.26）
お申[...]
記事を読む
6/3に開催いたしました令和４年度第１回機器分析・計測セミナー
『ＳＥＭセミナー』の録画動画の上映会を開催します。
（開催日：2022.[...]
記事を読む
