第4回機器分測・計測セミナー『素材研究用顕微鏡』を開催いたしました。
2018年12月12日、第4回機器分析・計測セミナー『素材研究用顕微鏡』を開催いたしました。
メーカーからお招きした講師の方に多光子顕微鏡で、GaNの欠陥や転移を観察する、最新の技術をご紹介いただきました。
ご参加いただきました皆様、ありがとうございました‼



2018.12.12
詳しくは、スキャナータイプ画像解析装置講習会をご確認ください。
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令和4年度第1回機器分析・計測セミナー『SEMセミナー』を開催します。
(開催日:2022.6.3)
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