第4回機器分測・計測セミナー『素材研究用顕微鏡』を開催いたしました。
2018年12月12日、第4回機器分析・計測セミナー『素材研究用顕微鏡』を開催いたしました。
メーカーからお招きした講師の方に多光子顕微鏡で、GaNの欠陥や転移を観察する、最新の技術をご紹介いただきました。
ご参加いただきました皆様、ありがとうございました‼
2018.12.12
2018年12月5日、第1回ワークショップ『卓上低真空走査電子顕微鏡』を開催いたしました。
7組（教員5名、学生21名）の皆様にご参加[...]
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令和４年度第１回機器分析・計測セミナー『ＳＥＭセミナー』を開催します。
（開催日：2022.6.3）
お申し込みはこちら（参加申[...]
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機器分析施設では、装置メーカーの日本ビュッヒ株式会社のご協力の下、
令和５年度第１回機器分析・計測セミナー
「分取クロマト[...]
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