第４回機器分測・計測セミナー『素材研究用顕微鏡』を開催いたします。
(開催日H30.12.12）
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令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置Amersham® Typhoon® NIR Plusのご紹介」を開催しま[...]
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機器分析施設では、装置メーカーのライカマイクロシステムズ株式会社のご協力の下、令和４年度第１回ワークショップ「顕微鏡＆マイクロスコープ展示[...]
2018年12月5日、第1回ワークショップ『卓上低真空走査電子顕微鏡』を開催いたしました。 7組（教員5名、学生21名）の皆様にご参加[...]
