新着情報

第5回機器分析・計測セミナー『質量分析技術の基礎』を開催いたしました。

2018年12月19日、第5回機器分析・計測セミナー『質量分析技術の基礎』を開催いたしました。

ご参加いただいた皆様、ありがとうございました‼

2018.12.20

令和4年度第1回機器分析・計測セミナー『SEMセミナー』開催のご案内

令和4年度第1回機器分析・計測セミナー『SEMセミナー』を開催します。 (開催日:2022.6.3) お申し込みはこちら(参加申[...]

記事を読む

第1回ワークショップ『卓上低真空走査電子顕微鏡』を開催いたしました。

2018年12月5日、第1回ワークショップ『卓上低真空走査電子顕微鏡』を開催いたしました。 7組(教員5名、学生21名)の皆様にご参加[...]

記事を読む

令和5年度第2回機器分析・計測セミナー「X線CT装置オンラインセミナー」

令和5年度第2回機器分析・計測セミナー「X線CT装置オンラインセミナー」を開催いたします。本セミナーでご紹介いたします2機種は、当方で令和6[...]

記事を読む