令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置Amersham® Typhoon® NIR Plusのご紹介」を開催します。 （開催日：2024/12/24（火）） お申し込みはこちら（GoogleForms）
令和6年度第3回機器分析・計測セミナー開催案内
令和５年度第２回機器分析・計測セミナー「X線CT装置オンラインセミナー」を開催いたします。本セミナーでご紹介いたします２機種は、当方で令和６[...]
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2018年12月5日、第1回ワークショップ『卓上低真空走査電子顕微鏡』を開催いたしました。 7組（教員5名、学生21名）の皆様にご参加[...]
令和４年度第２回機器分析・計測セミナー「質量分析装置オンラインセミナー」を開催します。今回は３回のシリーズでお届けいたします。 （開催日：[...]
