新着情報

令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置のご紹介」

学内向け 学外向け

令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置Amersham® Typhoon® NIR Plusのご紹介」を開催します。
(開催日:2024/12/24(火))
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令和6年度第3回機器分析・計測セミナー開催案内

2024.12.13

ICP発光分光分析装置機器講習会のご案内

詳しくは、ICP講習会をご確認ください。 お申し込みはこちら(Formsリンク)[...]

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第4回機器分析・計測セミナー『素材研究用顕微鏡』開催のご案内

第4回機器分測・計測セミナー『素材研究用顕微鏡』を開催いたします。 (開催日H30.12.12) くわしくはこちらをご覧[...]

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令和4年度第1回機器分析・計測セミナー『SEMセミナー』開催のご案内

令和4年度第1回機器分析・計測セミナー『SEMセミナー』を開催します。 (開催日:2022.6.3) お申し込みはこちら(参加申[...]

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