令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置Amersham® Typhoon® NIR Plusのご紹介」を開催します。 （開催日：2024/12/24（火）） お申し込みはこちら（GoogleForms）
令和6年度第3回機器分析・計測セミナー開催案内
2018年12月12日、第4回機器分析・計測セミナー『素材研究用顕微鏡』を開催いたしました。 メーカーからお招きした講師の方に多光子顕[...]
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令和6年度第2回機器分析・計測セミナー「におい分析セミナー」を開 催します。 （開催日：2024/9/12（木）） お申し込みはこちら[...]
第5回機器分析・計測セミナー『質量分析技術の基礎』を開催いたします。 開催日（H30.12.19） くわしくはこちらをご[...]
