新着情報

令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置のご紹介」

学内向け 学外向け

令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置Amersham® Typhoon® NIR Plusのご紹介」を開催します。
(開催日:2024/12/24(火))
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令和6年度第3回機器分析・計測セミナー開催案内

2024.12.13

令和4年度第1回機器分析・計測セミナー『SEMセミナー』録画上映会開催のご案内

6/3に開催いたしました令和4年度第1回機器分析・計測セミナー 『SEMセミナー』の録画動画の上映会を開催します。 (開催日:2022.[...]

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令和5年度第1回ワークショップ「試料作製・『偏光』観察展示会」の開催のご案内

 機器分析施設では、装置メーカーのライカマイクロシステムズ株式会社のご協力の下、本年度も令和5年度第1回ワークショップ「試料作製・『偏光』観[...]

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令和4年度第4回機器分析・計測セミナー「BDシングルセル解析オンラインセミナー」の開催のご案内

令和4年度第4回機器分析・計測セミナー「BDシングルセル解析オンラインセミナー」を開催します。 (開催日:2022.10.26) お申込[...]

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