新着情報

令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置のご紹介」

学内向け 学外向け

令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置Amersham® Typhoon® NIR Plusのご紹介」を開催します。
(開催日:2024/12/24(火))
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令和6年度第3回機器分析・計測セミナー開催案内

2024.12.13

接触角測定装置講習会開催のご案内

詳しくは、接触角測定装置講習会をご確認ください。 お申し込みはこちら(Google Formsリンク)[...]

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第5回機器分析・計測セミナー『質量分析技術の基礎』開催のご案内

第5回機器分析・計測セミナー『質量分析技術の基礎』を開催いたします。 開催日(H30.12.19) くわしくはこちらをご[...]

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令和6年度第1回機器分析・計測セミナー「ルミノメーターセミナー」

令和6年度第1回機器分析・計測セミナー「ルミノメーターセミナー」を開催します。 (開催日:2024/7/11(木)) お申し込みはこちら[...]

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