令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置Amersham® Typhoon® NIR Plusのご紹介」を開催します。 （開催日：2024/12/24（火）） お申し込みはこちら（GoogleForms）
令和6年度第3回機器分析・計測セミナー開催案内
2018年12月5日、第1回ワークショップ『卓上低真空走査電子顕微鏡』を開催いたしました。 7組（教員5名、学生21名）の皆様にご参加[...]
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詳しくは、接触角測定装置講習会をご確認ください。 お申し込みはこちら（Google Formsリンク）[...]
機器分析施設では、装置メーカーの日本ビュッヒ株式会社のご協力の下、 令和５年度第１回機器分析・計測セミナー 「分取クロマト[...]
