新着情報

令和4年度第3回機器分析・計測セミナー「FACS基礎原理・アプリケーションセミナー」の開催のご案内

学内向け 学外向け

令和4年度第3回機器分析・計測セミナー「FACS基礎原理・アプリケーションセミナー」を開催します。
(開催日:2022.9.26)
お申込みはこちら(GoogleForms)

220926EventInformationLeaflet_FACS基礎原理・アプリケーションセミナー
皆様のご参加をお待ちしております。

2022.9.15

第5回機器分析・計測セミナー『質量分析技術の基礎』開催のご案内

第5回機器分析・計測セミナー『質量分析技術の基礎』を開催いたします。 開催日(H30.12.19) くわしくはこちらをご[...]

記事を読む

「X線撮影・CTデータ解析ソフトウェアトレーニング」開催のご案内

詳しくはX線撮影・CTデータ解析ソフトウェアトレーニングについてをご参照ください。 お申し込みはこちら(Google Formsリンク[...]

記事を読む

[変更] 令和5年度第1回機器分析・計測セミナー「分取クロマトグラフィー体験セミナー」開催のご案内

過日にご案内いたしました当該セミナーの初日(8/31)の講演・機器紹介について  ・講演中に実機を見たい。  ・メーカーと直接話したい。[...]

記事を読む