令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置Amersham® Typhoon® NIR Plusのご紹介」を開催します。 （開催日：2024/12/24（火）） お申し込みはこちら（GoogleForms）
令和6年度第3回機器分析・計測セミナー開催案内
いよいよ明日の開催です。 まだお席に余裕がありますので、皆様のご参加をお待ちしております。 [...]
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機器分析施設利用責任者の皆様 日々より機器分析施設の運営にご協力を賜り、厚く御礼申し上げます。 さて、このたび機器分析施設を[...]
2018年12月5日、第1回ワークショップ『卓上低真空走査電子顕微鏡』を開催いたしました。 7組（教員5名、学生21名）の皆様にご参加[...]
