新着情報

令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置のご紹介」

学内向け 学外向け

令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置Amersham® Typhoon® NIR Plusのご紹介」を開催します。
(開催日:2024/12/24(火))
お申し込みはこちら(GoogleForms)

令和6年度第3回機器分析・計測セミナー開催案内

2024.12.13

令和4年度第1回機器分析・計測セミナー『SEMセミナー』録画上映会開催のご案内

6/3に開催いたしました令和4年度第1回機器分析・計測セミナー 『SEMセミナー』の録画動画の上映会を開催します。 (開催日:2022.[...]

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研究推進総合支援センターの先端研究設備を活用した教育研究支援事業

本学第4期中期計画「14-1 設備による教育研究支援」に基づき、大学の施設・設備等を活用した教育研究支援の一環として、学内の教職員および学生[...]

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【年末年始期間中のご利用について】

[...]

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