令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置Amersham® Typhoon® NIR Plusのご紹介」を開催します。 （開催日：2024/12/24（火）） お申し込みはこちら（GoogleForms）
令和6年度第3回機器分析・計測セミナー開催案内
機器分析施設利用者の皆様 日頃から、富山大学機器分析施設をご利用いただき、誠にありがとうございます。 この度、維持管理費用の高騰のた[...]
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機器分析施設では、装置メーカーの日本ビュッヒ株式会社のご協力の下、 令和５年度第１回機器分析・計測セミナー 「分取クロマト[...]
第４回機器分測・計測セミナー『素材研究用顕微鏡』を開催いたします。 (開催日H30.12.12） くわしくはこちらをご覧[...]
