令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置Amersham® Typhoon® NIR Plusのご紹介」を開催します。 （開催日：2024/12/24（火）） お申し込みはこちら（GoogleForms）
令和6年度第3回機器分析・計測セミナー開催案内
2018年12月12日、第4回機器分析・計測セミナー『素材研究用顕微鏡』を開催いたしました。 メーカーからお招きした講師の方に多光子顕[...]
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詳しくはX線撮影・CTデータ解析ソフトウェアトレーニングについてをご参照ください。 お申し込みはこちら（Google Formsリンク[...]
本学第４期中期計画「14-1 設備による教育研究支援」に基づき、大学の施設・設備等を活用した教育研究支援の一環として、学内の教職員および学生[...]
