新着情報

令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置のご紹介」

学内向け 学外向け

令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置Amersham® Typhoon® NIR Plusのご紹介」を開催します。
(開催日:2024/12/24(火))
お申し込みはこちら(GoogleForms)

令和6年度第3回機器分析・計測セミナー開催案内

2024.12.13

ガスクロマトグラフ質量分析装置講習会開催のご案内

詳しくは、GC-MS装置講習会をご確認ください。 お申し込みはこちら(Google Formsリンク)[...]

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『施設利用ガイダンス』を開催いたしました。

2019年4月26日(金)、『施設利用ガイダンス』を開催いたしました。 5月9日(木)に第2回を開催いたします。 第1回に参加出[...]

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令和6年度第2回機器分析・計測セミナー「におい分析セミナー」

令和6年度第2回機器分析・計測セミナー「におい分析セミナー」を開 催します。 (開催日:2024/9/12(木)) お申し込みはこちら[...]

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