令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置Amersham® Typhoon® NIR Plusのご紹介」を開催します。 （開催日：2024/12/24（火）） お申し込みはこちら（GoogleForms）
令和6年度第3回機器分析・計測セミナー開催案内
利用責任者の皆様 管理担当の皆様 機器分析施設の機器の利用者を対象とした施設利用のためのガイダンスを下記の要領でオンライン開催し[...]
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2018年12月19日、第5回機器分析・計測セミナー『質量分析技術の基礎』を開催いたしました。 ご参加いただいた皆様、ありがとうござい[...]
本学第４期中期計画「14-1 設備による教育研究支援」に基づき、大学の施設・設備等を活用した教育研究支援の一環として、学内の教職員および学生[...]
