新着情報

令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置のご紹介」

学内向け 学外向け

令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置Amersham® Typhoon® NIR Plusのご紹介」を開催します。
(開催日:2024/12/24(火))
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令和6年度第3回機器分析・計測セミナー開催案内

2024.12.13

令和4年度第2回機器分析・計測セミナー「質量分析装置オンラインセミナー」の開催のご案内

令和4年度第2回機器分析・計測セミナー「質量分析装置オンラインセミナー」を開催します。今回は3回のシリーズでお届けいたします。 (開催日:[...]

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『施設利用ガイダンス』開催のご案内

『施設利用ガイダンス』を開催いたします。 (開催日 4月26日,5月9日) ガイダンス_2019[...]

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第5回機器分析・計測セミナー『質量分析技術の基礎』を開催いたしました。

2018年12月19日、第5回機器分析・計測セミナー『質量分析技術の基礎』を開催いたしました。 ご参加いただいた皆様、ありがとうござい[...]

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