令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置Amersham® Typhoon® NIR Plusのご紹介」を開催します。 （開催日：2024/12/24（火）） お申し込みはこちら（GoogleForms）
令和6年度第3回機器分析・計測セミナー開催案内
機器分析施設では、装置メーカーのライカマイクロシステムズ株式会社のご協力の下、本年度も令和５年度第１回ワークショップ「試料作製・『偏光』観[...]
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詳しくは、GC講習会をご確認ください。 お申し込みはこちら（Google Formsリンク）[...]
詳しくは、次世代シーケンサー講習会をご確認ください。 お申し込みはこちら（Formsリンク）[...]
