令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置Amersham® Typhoon® NIR Plusのご紹介」を開催します。 （開催日：2024/12/24（火）） お申し込みはこちら（GoogleForms）
令和6年度第3回機器分析・計測セミナー開催案内
富山大学設備サポートセンター整備事業キックオフシンポジウムが開催されました‼ くわしくはこちらをご覧ください。[...]
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機器分析施設では、装置メーカーのライカマイクロシステムズ株式会社のご協力の下、本年度も令和５年度第１回ワークショップ「試料作製・『偏光』観[...]
いよいよ明日の開催です。 まだお席に余裕がありますので、皆様のご参加をお待ちしております。 [...]
