新着情報

令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置のご紹介」

学内向け 学外向け

令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置Amersham® Typhoon® NIR Plusのご紹介」を開催します。
(開催日:2024/12/24(火))
お申し込みはこちら(GoogleForms)

令和6年度第3回機器分析・計測セミナー開催案内

2024.12.13

ガスクロマトグラフ質量分析装置講習会開催のご案内

詳しくは、GC-MS装置講習会をご確認ください。 お申し込みはこちら(Google Formsリンク)[...]

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令和6年度第1回機器分析・計測セミナー「ルミノメーターセミナー」

令和6年度第1回機器分析・計測セミナー「ルミノメーターセミナー」を開催します。 (開催日:2024/7/11(木)) お申し込みはこちら[...]

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令和4年度第1回機器分析・計測セミナー『SEMセミナー』録画上映会開催のご案内

6/3に開催いたしました令和4年度第1回機器分析・計測セミナー 『SEMセミナー』の録画動画の上映会を開催します。 (開催日:2022.[...]

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