令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置Amersham® Typhoon® NIR Plusのご紹介」を開催します。 （開催日：2024/12/24（火）） お申し込みはこちら（GoogleForms）
令和6年度第3回機器分析・計測セミナー開催案内
機器分析施設では、装置メーカーのライカマイクロシステムズ株式会社のご協力の下、本年度も令和５年度第１回ワークショップ「試料作製・『偏光』観[...]
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2019年4月26日（金）、『施設利用ガイダンス』を開催いたしました。 5月9日（木）に第2回を開催いたします。 第1回に参加出[...]
ホームページをリニューアルいたしました。 機器一覧をデータベース化し、検索が容易にできるようになりました。 是非、ご活用ください[...]
