新着情報

令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置のご紹介」

学内向け 学外向け

令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置Amersham® Typhoon® NIR Plusのご紹介」を開催します。
(開催日:2024/12/24(火))
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令和6年度第3回機器分析・計測セミナー開催案内

2024.12.13

ICP発光分光分析装置機器講習会のご案内

詳しくは、ICP講習会をご確認ください。 お申し込みはこちら(Formsリンク)[...]

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令和5年度第1回機器分析・計測セミナー「分取クロマトグラフィー体験セミナー」開催のご案内

機器分析施設では、装置メーカーの日本ビュッヒ株式会社のご協力の下、    令和5年度第1回機器分析・計測セミナー     「分取クロマト[...]

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令和7年度機器分析・計測セミナー「EDSオンラインセミナー」

令和7年度機器分析・計測セミナー「EDSオンラインセミナー」を開催します。 (開催日:2025/11/26(水)) お申し込みはこち[...]

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