令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置Amersham® Typhoon® NIR Plusのご紹介」を開催します。 （開催日：2024/12/24（火）） お申し込みはこちら（GoogleForms）
令和6年度第3回機器分析・計測セミナー開催案内
令和４年度第４回機器分析・計測セミナー「BDシングルセル解析オンラインセミナー」を開催します。 （開催日：2022.10.26） お申込[...]
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2018年12月12日、第4回機器分析・計測セミナー『素材研究用顕微鏡』を開催いたしました。 メーカーからお招きした講師の方に多光子顕[...]
詳しくは、次世代シーケンサー講習会をご確認ください。 お申し込みはこちら（Formsリンク）[...]
