新着情報

令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置のご紹介」

学内向け 学外向け

令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置Amersham® Typhoon® NIR Plusのご紹介」を開催します。
(開催日:2024/12/24(火))
お申し込みはこちら(GoogleForms)

令和6年度第3回機器分析・計測セミナー開催案内

2024.12.13

次世代シーケンサー機器講習会開催のご案内

詳しくは、次世代シーケンサー講習会をご確認ください。 お申し込みはこちら(Formsリンク)[...]

記事を読む

『施設利用ガイダンス』開催のご案内

『施設利用ガイダンス』を開催いたします。 (開催日 4月26日,5月9日) ガイダンス_2019[...]

記事を読む

研究推進総合支援センターの先端研究設備を活用した教育研究支援事業

本学第4期中期計画「14-1 設備による教育研究支援」に基づき、大学の施設・設備等を活用した教育研究を支援するため、学内の教職員・学生を対象[...]

記事を読む