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令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置のご紹介」

学内向け 学外向け

令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置Amersham® Typhoon® NIR Plusのご紹介」を開催します。
(開催日:2024/12/24(火))
お申し込みはこちら(GoogleForms)

令和6年度第3回機器分析・計測セミナー開催案内

2024.12.13

令和8年度機器分析施設利用ガイダンス受講のお願い

機器分析施設利用責任者の皆様  日々より機器分析施設の運営にご協力を賜り、厚く御礼申し上げます。  さて、このたび機器分析施設を[...]

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「X線撮影・CTデータ解析ソフトウェアトレーニング」開催のご案内

詳しくはX線撮影・CTデータ解析ソフトウェアトレーニングについてをご参照ください。 お申し込みはこちら(Google Formsリンク[...]

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次世代シーケンサー機器講習会開催のご案内

詳しくは、次世代シーケンサー講習会をご確認ください。 お申し込みはこちら(Formsリンク)[...]

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