令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置Amersham® Typhoon® NIR Plusのご紹介」を開催します。 （開催日：2024/12/24（火）） お申し込みはこちら（GoogleForms）
令和6年度第3回機器分析・計測セミナー開催案内
令和４年度第２回機器分析・計測セミナー「質量分析装置オンラインセミナー」を開催します。今回は３回のシリーズでお届けいたします。 （開催日：[...]
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2018年12月19日、第5回機器分析・計測セミナー『質量分析技術の基礎』を開催いたしました。 ご参加いただいた皆様、ありがとうござい[...]
機器分析施設では、装置メーカーの日本ビュッヒ株式会社のご協力の下、 令和５年度第１回機器分析・計測セミナー 「分取クロマト[...]
