令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置Amersham® Typhoon® NIR Plusのご紹介」を開催します。 （開催日：2024/12/24（火）） お申し込みはこちら（GoogleForms）
令和6年度第3回機器分析・計測セミナー開催案内
6/3に開催いたしました令和４年度第１回機器分析・計測セミナー 『ＳＥＭセミナー』の録画動画の上映会を開催します。 （開催日：2022.[...]
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本学第４期中期計画「14-1 設備による教育研究支援」に基づき、大学の施設・設備等を活用した教育研究支援の一環として、学内の教職員および学生[...]
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