新着情報

令和4年度第3回機器分析・計測セミナー「FACS基礎原理・アプリケーションセミナー」の開催のご案内

学内向け 学外向け

令和4年度第3回機器分析・計測セミナー「FACS基礎原理・アプリケーションセミナー」を開催します。
(開催日:2022.9.26)
お申込みはこちら(GoogleForms)

220926EventInformationLeaflet_FACS基礎原理・アプリケーションセミナー
皆様のご参加をお待ちしております。

2022.9.15

令和4年度第1回ワークショップ「顕微鏡&マイクロスコープ展示会」の開催のご案内

 機器分析施設では、装置メーカーのライカマイクロシステムズ株式会社のご協力の下、令和4年度第1回ワークショップ「顕微鏡&マイクロスコープ展示[...]

記事を読む

令和8年度機器分析施設利用ガイダンス受講のお願い

機器分析施設利用責任者の皆様  日々より機器分析施設の運営にご協力を賜り、厚く御礼申し上げます。  さて、このたび機器分析施設を[...]

記事を読む

令和4年度第1回機器分析・計測セミナー『SEMセミナー』開催のご案内

令和4年度第1回機器分析・計測セミナー『SEMセミナー』を開催します。 (開催日:2022.6.3) お申し込みはこちら(参加申[...]

記事を読む