新着情報

令和4年度第3回機器分析・計測セミナー「FACS基礎原理・アプリケーションセミナー」の開催のご案内

学内向け 学外向け

令和4年度第3回機器分析・計測セミナー「FACS基礎原理・アプリケーションセミナー」を開催します。
(開催日:2022.9.26)
お申込みはこちら(GoogleForms)

220926EventInformationLeaflet_FACS基礎原理・アプリケーションセミナー
皆様のご参加をお待ちしております。

2022.9.15

令和6年度第1回機器分析・計測セミナー「ルミノメーターセミナー」

令和6年度第1回機器分析・計測セミナー「ルミノメーターセミナー」を開催します。 (開催日:2024/7/11(木)) お申し込みはこちら[...]

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令和5年度第2回機器分析・計測セミナー「X線CT装置オンラインセミナー」

令和5年度第2回機器分析・計測セミナー「X線CT装置オンラインセミナー」を開催いたします。本セミナーでご紹介いたします2機種は、当方で令和6[...]

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令和5年度第1回機器分析・計測セミナー「分取クロマトグラフィー体験セミナー」開催のご案内

機器分析施設では、装置メーカーの日本ビュッヒ株式会社のご協力の下、    令和5年度第1回機器分析・計測セミナー     「分取クロマト[...]

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