新着情報

令和4年度第3回機器分析・計測セミナー「FACS基礎原理・アプリケーションセミナー」の開催のご案内

学内向け 学外向け

令和4年度第3回機器分析・計測セミナー「FACS基礎原理・アプリケーションセミナー」を開催します。
(開催日:2022.9.26)
お申込みはこちら(GoogleForms)

220926EventInformationLeaflet_FACS基礎原理・アプリケーションセミナー
皆様のご参加をお待ちしております。

2022.9.15

令和4年度第1回機器分析・計測セミナー『SEMセミナー』録画上映会開催のご案内

6/3に開催いたしました令和4年度第1回機器分析・計測セミナー 『SEMセミナー』の録画動画の上映会を開催します。 (開催日:2022.[...]

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令和4年度第1回機器分析・計測セミナー『SEMセミナー』開催のご案内

令和4年度第1回機器分析・計測セミナー『SEMセミナー』を開催します。 (開催日:2022.6.3) お申し込みはこちら(参加申[...]

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スキャナータイプ画像解析装置機器講習会のご案内

詳しくは、スキャナータイプ画像解析装置講習会をご確認ください。 お申し込みはこちら(Formsリンク)[...]

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