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令和4年度第3回機器分析・計測セミナー「FACS基礎原理・アプリケーションセミナー」の開催のご案内

学内向け 学外向け

令和4年度第3回機器分析・計測セミナー「FACS基礎原理・アプリケーションセミナー」を開催します。
(開催日:2022.9.26)
お申込みはこちら(GoogleForms)

220926EventInformationLeaflet_FACS基礎原理・アプリケーションセミナー
皆様のご参加をお待ちしております。

2022.9.15

令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置のご紹介」

令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置Amersham® Typhoon® NIR Plusのご紹介」を開催しま[...]

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2019年4月26日(金)、『施設利用ガイダンス』を開催いたしました。 5月9日(木)に第2回を開催いたします。 第1回に参加出[...]

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接触角測定装置講習会開催のご案内

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