令和４年度第１回機器分析・計測セミナー『ＳＥＭセミナー』を開催します。
（開催日：2022.6.3）
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令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置Amersham® Typhoon® NIR Plusのご紹介」を開催しま[...]
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詳しくは、GC-MS装置講習会をご確認ください。 お申し込みはこちら（Google Formsリンク）[...]
詳しくは、ICP講習会をご確認ください。 お申し込みはこちら（Formsリンク）[...]
