令和４年度第１回機器分析・計測セミナー『ＳＥＭセミナー』を開催します。
（開催日：2022.6.3）
お申し込みはこちら（参加申し込み）
詳しくはこちらをご覧ください。
皆様のご参加をお待ちしております。
令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置Amersham® Typhoon® NIR Plusのご紹介」を開催しま[...]
記事を読む
本学第４期中期計画「14-1 設備による教育研究支援」に基づき、大学の施設・設備等を活用した教育研究を支援するため、学内の教職員・学生を対象[...]
2018年12月19日、第5回機器分析・計測セミナー『質量分析技術の基礎』を開催いたしました。 ご参加いただいた皆様、ありがとうござい[...]
