新着情報

令和4年度第1回機器分析・計測セミナー『SEMセミナー』開催のご案内

学内向け 学外向け

令和4年度第1回機器分析・計測セミナー『SEMセミナー』を開催します。

(開催日:2022.6.3)

お申し込みはこちら(参加申し込み


詳しくはこちらをご覧ください。

皆様のご参加をお待ちしております。

2022.5.24

令和6年度第2回機器分析・計測セミナー「におい分析セミナー」

令和6年度第2回機器分析・計測セミナー「におい分析セミナー」を開 催します。 (開催日:2024/9/12(木)) お申し込みはこちら[...]

記事を読む

ICP発光分光分析装置機器講習会のご案内

詳しくは、ICP講習会をご確認ください。 お申し込みはこちら(Formsリンク)[...]

記事を読む

令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置のご紹介」

令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置Amersham® Typhoon® NIR Plusのご紹介」を開催しま[...]

記事を読む