新着情報

令和4年度第1回機器分析・計測セミナー『SEMセミナー』開催のご案内

学内向け 学外向け

令和4年度第1回機器分析・計測セミナー『SEMセミナー』を開催します。

(開催日:2022.6.3)

お申し込みはこちら(参加申し込み


詳しくはこちらをご覧ください。

皆様のご参加をお待ちしております。

2022.5.24

令和4年度第2回機器分析・計測セミナー「質量分析装置オンラインセミナー」の開催のご案内

令和4年度第2回機器分析・計測セミナー「質量分析装置オンラインセミナー」を開催します。今回は3回のシリーズでお届けいたします。 (開催日:[...]

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第1回ワークショップ『卓上低真空走査電子顕微鏡』を開催いたしました。

2018年12月5日、第1回ワークショップ『卓上低真空走査電子顕微鏡』を開催いたしました。 7組(教員5名、学生21名)の皆様にご参加[...]

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令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置のご紹介」

令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置Amersham® Typhoon® NIR Plusのご紹介」を開催しま[...]

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