新着情報

令和4年度第1回機器分析・計測セミナー『SEMセミナー』開催のご案内

学内向け 学外向け

令和4年度第1回機器分析・計測セミナー『SEMセミナー』を開催します。

(開催日:2022.6.3)

お申し込みはこちら(参加申し込み


詳しくはこちらをご覧ください。

皆様のご参加をお待ちしております。

2022.5.24

スキャナータイプ画像解析装置機器講習会のご案内

詳しくは、スキャナータイプ画像解析装置講習会をご確認ください。 お申し込みはこちら(Formsリンク)[...]

記事を読む

「X線撮影・CTデータ解析ソフトウェアトレーニング」開催のご案内

詳しくはX線撮影・CTデータ解析ソフトウェアトレーニングについてをご参照ください。 お申し込みはこちら(Google Formsリンク[...]

記事を読む

『施設利用ガイダンス』開催のご案内

『施設利用ガイダンス』を開催いたします。 (開催日 4月26日,5月9日) ガイダンス_2019[...]

記事を読む