新着情報

「X線撮影・CTデータ解析ソフトウェアトレーニング」開催のご案内

学内向け


詳しくはX線撮影・CTデータ解析ソフトウェアトレーニングについてをご参照ください。
お申し込みはこちら(Google Formsリンク

2024.1.16

令和5年度第1回機器分析・計測セミナー「分取クロマトグラフィー体験セミナー」開催のご案内

機器分析施設では、装置メーカーの日本ビュッヒ株式会社のご協力の下、    令和5年度第1回機器分析・計測セミナー     「分取クロマト[...]

記事を読む

第4回機器分析・計測セミナー『素材研究用顕微鏡』開催のご案内

第4回機器分測・計測セミナー『素材研究用顕微鏡』を開催いたします。 (開催日H30.12.12) くわしくはこちらをご覧[...]

記事を読む

第4回機器分測・計測セミナー『素材研究用顕微鏡』を開催いたしました。

2018年12月12日、第4回機器分析・計測セミナー『素材研究用顕微鏡』を開催いたしました。 メーカーからお招きした講師の方に多光子顕[...]

記事を読む