機器詳細
| 機器名 | 走査型プローブ顕微鏡AFM |
| コード | 0031 |
| 分野 | 化学金属生命科学電気電子物理 |
| 目的別分類 | 形状観察表面無機 |
| メーカー名 | SPM-9500J2 |
| 型式 | ㈱島津製作所 |
| 製造年 | |
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| 仕様 | ≪ＡＦＭ≫ コンタクトモード及びダイナミックモードによる原子間力顕微鏡観察 最大走査範囲 (X、Y) 125 μm×125 μm 最大測定範囲 (Z) ８ μm 変位検出系LD／光てこ／4分割PSD 試料最大形状 φ24 mm×8 mm 画像処理：傾斜補正、ノイズライン除去、局所フィルター、周波数フィルター、画像拡大、画像反転、画像回転など 画像解析：断面形状解析、線粗さ解析、表面粗さ解析、パワースペクトル解析、自己相関解析、フラクタル解析など 画像表示：濃淡画像表示、三次元表示など 複数画面：最大40画面 |
| 装置の概要 | ≪ＡＦＭ≫ カンチレバーを試料表面の原子間の斥力が働くところまで近づけ、レバーのたわみをレーザーセンサーで検知し、たわみ量（＝斥力）が一定になるようカンチレバーをZ軸方向にフィードバック制御する。カンチレバーのZ変位量を画像化し、トポグラフィー像が得られる。 ≪ＡＦＭ≫ サンプル、カンチレバーを取り付け、レーザービームの調整を行う。フィードバックに入り、スキャン。半導体、ファイバー、ポリマー薄膜、粉末、生物試料等導電性がない試料でも測定可能。 |
| 外部利用可否 | × |
| 管理責任者 | 小野 恭史・機器分析施設 |
| 機器管理者 |
高野 登・工学部 會田 哲夫・都市デザイン学部 |
| キャンパス | 五福 |
| 設置場所 | 工学部共通講義棟 2205-1 室（G6） |
| 設置年度 | 2002年度 |
| 学内利用申請 | 機器分析施設に利用申請書を提出してください。 |