機器詳細
| 機器名 | X線解析装置 |
| コード | 0027 |
| 分野 | その他 |
| 目的別分類 | |
| メーカー名 | ブルカー・エイエックスエス株式会社 |
| 型式 | D8 DISCOVER |
| 製造年 | |
| 写真 |
|
| 仕様 | ・ゴニオメータ精度：1 / 10000° ・試料水平型ゴニオメータ ・検出器： （0次元）シンチレーションカウンター （1次元）LynxEye半導体検出器 ・ソフトウェア：同定、定量、逆格子空間マップ、反射率測定、極点図形、応力測定、ICDDデータ等 （定量には初期結晶構造データを準備していただく必要があります） |
| 装置の概要 | Ｘ線解析装置は、試料によるＸ線の回折を測定し、同定や配向性、結晶構造等の解析を行う装置です。 本装置には光学エンコーダ搭載ステッピングモーターによる高精度ゴニオメータを採用したω、2θの2軸に加え、χ、φ、X、Y、Z軸の5軸を組み合わせた多目的試料ステージを備えています。また、光学系も通常の発散スリット以外にもミラーや、ハイブリットモノクロメータや、１次元検出器も備えていますので、粉末試料から薄膜、結晶材料等の多様な測定に対応しています。 利用範囲:粉末試料、薄膜、結晶材料等 |
| 外部利用可否 | ○ |
| 管理責任者 | 小野 恭史・機器分析施設 |
| 機器管理者 | 佐伯 淳・都市デザイン学部 |
| キャンパス | 五福 |
| 設置場所 | 学術研究・産学連携本部 （G14） |
| 設置年度 | 2009年度 |
| 学内利用申請 | 機器分析施設に利用申請書を提出してください。 |