機器詳細
| 機器名 | 低エネルギーイオンミリング装置 |
| 機器コード | A041 |
| 分野 | 金属電気電子物理 |
| 目的別分類 | ナノ材料表面 |
| メーカー名 | 米国 E.A.Fischione Instruments. Inc |
| 型式 | TEMミル モデル1051 |
| 製造年 | |
| 写真 |
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| 仕様 | イオン源 試料ホルダー 試料ステージ 試料冷却 照明 自動停止 プロセスガス |
| 装置の概要 | ダメージのない高品質の透過型電子顕微鏡(TEM)用試料を作製するためのイオンミリング装置です。特許技術のTrueFocusイオン源は、広範な加速電圧に対して細いビーム径を維持します。イオンビームの加速電圧は100eV~10keVの範囲で、ミリング角度は-15°~+10°の範囲で任意に設定出来ますので、試料の高速ミリングから最終ポリッシングまであらゆる工程でご利用頂けます。ロードロック機構(予備排気室)を搭載しており、試料の出し入れを迅速に行うことが可能です。 |
| 外部利用可否 | ○ |
| 管理責任者 | 小野 恭史・機器分析施設 |
| 機器管理者 |
李 昇原・都市デザイン学部 |
| キャンパス | 五福 |
| 設置場所 | 富山市新産業支援センター 機器分析室 (G15) |
| 設置年度 | 2022年度 |
| 学内利用申請 | 機器分析施設に利用申請書を提出してください。 |
