機器詳細
| 機器名 | 走査型プローブ顕微鏡 |
| 機器コード | A090 |
| 分野 | 金属 |
| 目的別分類 | 形状観察ナノ材料表面 |
| メーカー名 | 日立ハイテクサイエンス |
| 型式 | プローブステーション AFM5000 Ⅱ 5100/5200 |
| 製造年 | |
| 写真 |
|
| 仕様 | 同時測定（データポイント） 4画面（最大8192×1024） 長方形スキャン 2：1、4：1、8：1、16：1、32：1、64：1、128：1、256：1、512：1、1024：1 ソフトウェア 測定ナビゲーション機能、三次元表示機能、断面解析、探針評価機能 本体サイズ 300mm(W) × 550mm(D) × 629mm(H)、約40kg 電源：AC100V±10V 15A |
| 装置の概要 | 先端を尖らせた探針を用いて、物質の表面をなぞるように動かして表面状態を拡大観察できる。 導電性コーティングなどの前処理や装置内の真空を必要とする事もない。このため、大気中や液体中、または高温～低温など様々な環境で、生体試料などを自然に近い状態で測定できる。 |
| 外部利用可否 | × |
| 管理責任者 | 松田 健二・都市デザイン学部 |
| 機器管理者 |
李 昇原・都市デザイン学部 |
| キャンパス | 五福 |
| 設置場所 | 材料棟1階 松田研 |
| 設置年度 | 2016年度 |
| 学内利用申請 | 機器分析施設に利用申請書を提出してください。 |