新着情報

令和4年度第1回機器分析・計測セミナー『SEMセミナー』開催のご案内

学内向け 学外向け

令和4年度第1回機器分析・計測セミナー『SEMセミナー』を開催します。

(開催日:2022.6.3)

お申し込みはこちら(参加申し込み


詳しくはこちらをご覧ください。

皆様のご参加をお待ちしております。

2022.5.24

令和4年度第1回ワークショップ「顕微鏡&マイクロスコープ展示会」の開催のご案内

 機器分析施設では、装置メーカーのライカマイクロシステムズ株式会社のご協力の下、令和4年度第1回ワークショップ「顕微鏡&マイクロスコープ展示[...]

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次世代シーケンサー機器講習会開催のご案内

詳しくは、次世代シーケンサー講習会をご確認ください。 お申し込みはこちら(Formsリンク)[...]

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「X線撮影・CTデータ解析ソフトウェアトレーニング」開催のご案内

詳しくはX線撮影・CTデータ解析ソフトウェアトレーニングについてをご参照ください。 お申し込みはこちら(Google Formsリンク[...]

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