新着情報

令和4年度第1回機器分析・計測セミナー『SEMセミナー』開催のご案内

学内向け 学外向け

令和4年度第1回機器分析・計測セミナー『SEMセミナー』を開催します。

(開催日:2022.6.3)

お申し込みはこちら(参加申し込み


詳しくはこちらをご覧ください。

皆様のご参加をお待ちしております。

2022.5.24

令和6年度第2回機器分析・計測セミナー「におい分析セミナー」

令和6年度第2回機器分析・計測セミナー「におい分析セミナー」を開 催します。 (開催日:2024/9/12(木)) お申し込みはこちら[...]

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第4回機器分測・計測セミナー『素材研究用顕微鏡』を開催いたしました。

2018年12月12日、第4回機器分析・計測セミナー『素材研究用顕微鏡』を開催いたしました。 メーカーからお招きした講師の方に多光子顕[...]

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令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置のご紹介」

令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置Amersham® Typhoon® NIR Plusのご紹介」を開催しま[...]

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