第4回機器分測・計測セミナー『素材研究用顕微鏡』を開催いたしました。
2018年12月12日、第4回機器分析・計測セミナー『素材研究用顕微鏡』を開催いたしました。
メーカーからお招きした講師の方に多光子顕微鏡で、GaNの欠陥や転移を観察する、最新の技術をご紹介いただきました。
ご参加いただきました皆様、ありがとうございました‼
2018.12.12
機器分析施設では、装置メーカーの日本ビュッヒ株式会社のご協力の下、
令和５年度第１回機器分析・計測セミナー
「分取クロマト[...]
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令和４年度第４回機器分析・計測セミナー「BDシングルセル解析オンラインセミナー」を開催します。
（開催日：2022.10.26）
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詳しくはX線撮影・CTデータ解析ソフトウェアトレーニングについてをご参照ください。
お申し込みはこちら（Google Formsリンク[...]
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