新着情報

第4回機器分測・計測セミナー『素材研究用顕微鏡』を開催いたしました。

2018年12月12日、第4回機器分析・計測セミナー『素材研究用顕微鏡』を開催いたしました。

メーカーからお招きした講師の方に多光子顕微鏡で、GaNの欠陥や転移を観察する、最新の技術をご紹介いただきました。

ご参加いただきました皆様、ありがとうございました‼

2018.12.12

令和6年度第4回機器分析・計測セミナー「ICP発光分光分析装置オンラインセミナー」

令和6年度第4回機器分析・計測セミナー「ICP発光分光分析装置オンラインセミナー」を開催します。 (開催日:2025/1/20(月)) [...]

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令和4年度第3回機器分析・計測セミナー「FACS基礎原理・アプリケーションセミナー」の開催のご案内

令和4年度第3回機器分析・計測セミナー「FACS基礎原理・アプリケーションセミナー」を開催します。 (開催日:2022.9.26) お申[...]

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令和4年度第1回ワークショップ「顕微鏡&マイクロスコープ展示会」の開催のご案内

 機器分析施設では、装置メーカーのライカマイクロシステムズ株式会社のご協力の下、令和4年度第1回ワークショップ「顕微鏡&マイクロスコープ展示[...]

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