新着情報

令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置のご紹介」

学内向け 学外向け

令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置Amersham® Typhoon® NIR Plusのご紹介」を開催します。
(開催日:2024/12/24(火))
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令和6年度第3回機器分析・計測セミナー開催案内

2024.12.13

令和6年度第2回機器分析・計測セミナー「におい分析セミナー」

令和6年度第2回機器分析・計測セミナー「におい分析セミナー」を開 催します。 (開催日:2024/9/12(木)) お申し込みはこちら[...]

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施設利用ガイダンス開催のご案内

利用責任者の皆様 管理担当の皆様 機器分析施設の機器の利用者を対象とした施設利用のためのガイダンスを下記の要領でオンライン開催し[...]

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令和6年度第1回機器分析・計測セミナー「ルミノメーターセミナー」

令和6年度第1回機器分析・計測セミナー「ルミノメーターセミナー」を開催します。 (開催日:2024/7/11(木)) お申し込みはこちら[...]

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