新着情報

令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置のご紹介」

学内向け 学外向け

令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置Amersham® Typhoon® NIR Plusのご紹介」を開催します。
(開催日:2024/12/24(火))
お申し込みはこちら(GoogleForms)

令和6年度第3回機器分析・計測セミナー開催案内

2024.12.13

第5回機器分析・計測セミナー『質量分析技術の基礎』を開催いたしました。

2018年12月19日、第5回機器分析・計測セミナー『質量分析技術の基礎』を開催いたしました。 ご参加いただいた皆様、ありがとうござい[...]

記事を読む

キャピラリガスクロマトグラフシステム装置講習会開催のご案内

詳しくは、GC講習会をご確認ください。 お申し込みはこちら(Google Formsリンク)[...]

記事を読む

『施設利用ガイダンス』を開催いたしました。

2019年4月26日(金)、『施設利用ガイダンス』を開催いたしました。 5月9日(木)に第2回を開催いたします。 第1回に参加出[...]

記事を読む