新着情報

令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置のご紹介」

学内向け 学外向け

令和6年度第3回機器分析・計測セミナー「スキャナタイプ画像解析装置Amersham® Typhoon® NIR Plusのご紹介」を開催します。
(開催日:2024/12/24(火))
お申し込みはこちら(GoogleForms)

令和6年度第3回機器分析・計測セミナー開催案内

2024.12.13

[変更] 令和5年度第1回機器分析・計測セミナー「分取クロマトグラフィー体験セミナー」開催のご案内

過日にご案内いたしました当該セミナーの初日(8/31)の講演・機器紹介について  ・講演中に実機を見たい。  ・メーカーと直接話したい。[...]

記事を読む

「X線撮影・CTデータ解析ソフトウェアトレーニング」開催のご案内

詳しくはX線撮影・CTデータ解析ソフトウェアトレーニングについてをご参照ください。 お申し込みはこちら(Google Formsリンク[...]

記事を読む

第5回機器分析・計測セミナー『質量分析技術の基礎』開催のご案内

第5回機器分析・計測セミナー『質量分析技術の基礎』を開催いたします。 開催日(H30.12.19) くわしくはこちらをご[...]

記事を読む